DW1000芯片的RF测试与校准:接收灵敏度测试

发布时间 2023-08-17 11:31:51作者: 不回本不改名

DW1000芯片的RF测试与校准:接收灵敏度测试

基本原理

​ 一般来讲,接收机的接收灵敏度指标测试会通过丢包率来进行评估。即以一个标准的发射机对待测接收机进行发包,然后统计丢包率。然后逐步降低发射机的发射功率,观察丢包率的变化情况。一般来讲,随着发射机发射功率越低,丢包率也会越高。于是,我们便以当丢包率提高到某一个数值(比如说10%)时的最低发射机发射功率值,作为接收机的接收灵敏度。

​ 例如:

  1. 假定发射机向接收机发送数据包,不考虑任何损耗。
  2. 一开始发射机发射功率为10dBm,发送100包数据,这时接收机都能成功收到。
  3. 随后开始降低发射机发射功率,直到最低-20dBm时候,发射机发送100包数据,这时接收机最多只能成功收到90包,即最低丢包率为10%时。
  4. 这时候我们就以丢包率为10%为标准,得到接收机的接收灵敏度为-20dBm。

当然,上述只是一个基本的理论方案。实际应用中要考虑很多问题,例如

  • 发射机和接收机之间信号是会衰减的,这个要进行补偿。如果是传导测试要补偿线损,如果是耦合测试要补偿天线增益。
  • 发射机不一定能自由调节发射功率,需要额外的衰减器来进行控制。
  • 发射机要先进行标定,得到标准参考设备(reference test board ,RTB)。不然就是以己昏昏欲使人昭昭。等等。

参考方案

上图为一个参考的测试方案图,这里主要分为两个部分:

发射机端:包括一个标准测试版(RTB)和一个可编程衰减器和发射天线;

接收机端:包括待测设备(DUT)和接收天线。

上述的设备在测试时需要使用屏蔽箱将发射端和接收端围起来,避免干扰。(或者空旷环境)

衰减校准

​ 在测试前,需要先对信号衰减进行校准,校准的方法比较简单。先在要接收机的位置放置频谱仪和标准天线。随后通过频谱仪实测标准天线上收到的发射机发射信号的功率,然后和已知的标准发射机的发射功率进行对比,从而得到整条传输路径的衰减情况。这里的频谱仪的天线和连接的同轴线也是需要校准补偿过的。那这里,我们得到的信号功率就是后面我们方式DUT时,DUT天线会接收到的发射机信号的功率。

影响因素

常规因素

​ 在UWB技术中,会对接收灵敏度产生影响的参数如下。这些参数可以在芯片中进行配置,相关参数的原理可以参考我另一篇分析PHY层数据帧的博客。这里就不多提了。

NTM

​ 有意思的是,DW1000芯片是可以直接修改接收机的信号检测阈值的。在芯片中有一个叫NTM(noise threshold multiplier)的寄存器。由于UWB技术常用于测距定位,为了提高对信号回弹路径引起的噪声做过滤,DW1000增加了一个NTM机制。相关说明可以参考《APS006_Part-2-NLOS-Operation-and-Optimizations_v1.5》这份文档。这里只需要知道,在DW1000中有一个叫NTM的寄存器能直接影响芯片的接收灵敏度即可,并且一般来说,这个寄存器是不建议修改的。

参考指标

​ 在数据手册中,给出了芯片原厂的接收灵敏度参考指标。用户可以与自己的测试结果进行对比,发现并优化自己的测试方案。

参考文档

本文只做大致原理介绍,测试和校准更具体的说明,请参考如下官网指导手册。

  • 《DW1000 Datasheet》
  • 《APS012_DW1000_Production_Tests》
  • 《APS006_Part-2-NLOS-Operation-and-Optimizations_v1.5》